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元器件热冲击试验箱

简要描述:元器件热冲击试验箱适用于质量控制的实验室,确定电工电子产品在贮存、运输和使用期间可能遇到的温度迅速变化的条件下的适应性,又可满足生产过程中筛选商用产品。适用的对象包括金属,塑料,橡胶,电子、LED、LCD、通讯组件、汽车配件、化学材料、航天、国防工业、电子芯片IC、半导体陶瓷及高分子材料等行业,可作为其产品改进的依据或参考。

  • 产品型号AP-CJ
  • 厂商性质生产厂家
  • 更新时间2024-08-07
  • 访  问  量1137

详细介绍

品牌爱佩科技/A-PKJ价格区间面议
产地类别国产

元器件热冲击试验箱适用于质量控制的实验室,确定电工电子产品在贮存、运输和使用期间可能遇到的温度迅速变化的条件下的适应性,又可满足生产过程中筛选商用产品。适用的对象包括金属,塑料,橡胶,电子、LED、LCD、通讯组件、汽车配件、化学材料、航天、国防工业、电子芯片IC、半导体陶瓷及高分子材料等行业,可作为其产品改进的依据或参考。
元器件热冲击试验箱满足以下标准:
 .GB/T2423.1-2008 低温试验方法
·GB/T2423.2-2008  高温试验方法
·GB/T2423.22-2012 温度变化试验
·GJB150.5-86温度冲击试验
·GJB360.7-87温度冲击试验
·GJB367.2-87温度冲击试验
·QC/T17-92、EIA364-32、IEC68-2-14等
主要技术:
型号尺寸:(除了以下标准尺寸我司还可为大家定制非标尺寸)
AP-CJ-50A/B/C内箱尺寸:350×350×400外箱尺寸:1560×1750×1440
AP-CJ-80A/B/C内箱尺寸:500×400×400外箱尺寸:1700×1800×1440
AP-CJ-100A/B/C内箱尺寸:600×400×400外箱尺寸:1800×1800×1440
AP-CJ-150A/B/C内箱尺寸:600×500×500外箱尺寸:1800×1900×1540
AP-CJ-250A/B/C内箱尺寸:700×600×600外箱尺寸:1900×2000×1640
AP-CJ-480A/B/C内箱尺寸:800×800×750外箱尺寸:2020×2250×2150
试验温度范围:A表示:-40℃~+150℃
              B表示:-55℃~+150℃
              C表示:-65℃~+150℃
温度波动度: ±0.5℃
温度均匀度: ±2.0℃
温度均匀:±2℃;
升温速率:≤5℃/min; (全程平均)
降温速率:≤5℃/min;; (全程平均)
预冷下限温度:≤-50℃;
控制器:进口LED数显(P.I.D + S.S.R.)微电脑集成控制器
精度范围:设定精度:温度±0.1℃,指示精度:温度±0.1℃,解析度:±0.1℃
制冷系统:进口谷轮半封闭水冷式压缩机组/原装“泰康”全封闭风冷复迭压缩制冷
循环系统:耐温低噪音空调型电机.多叶式离心风轮
用欧美外观质感高水准,全系列爱佩7寸大屏真彩触摸屏控制器,操作简单,程序直观,还可单独做高温、低温试验。更多参数请业务曹()为您服务。

 

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